1）准备工作：按 ） 键，进入参数列表，按 键将光标移到探头类型栏，按 键将
探头类型改为斜探头 斜探头，再将光标移到试块挑选栏,把试块挑选栏改为 CSK − IA 。按 斜探头 面。
键，屏幕呈现“请输入外表补偿:0.0 dB”依据实在的状况输入外表补偿，按 请输入外表补偿: 请输入外表补偿
键。此刻，间隔波幅曲线（DAC）结束（仪器主动默许了 JB/T4730.3-2005 规范） 。
3)斜探头 K 值测验: 仪器会主动进入 K 值测验状况，屏幕下方显现“进入 K 值测验” ，闸口主动默许
确定 K2.0 探头回波显现区间。将探头标 K2.0 刻槽靠向 Φ50 一侧，前后移动探头找出孔波最高回波，按 键，屏幕下方显现“所测 K 值为：X.XX” 。按 其它键进入下一步。 键 K 值测验结束，再按 键从头校准，按
失后进入波形采样阶段。屏幕右上角呈现“测验点 01”闪耀。此刻把探头放在 CSK-Ⅲ A 试块上 。 例如测验 10mm 深的孔， 将探头对准 10mm 深孔， 按方向键将“闸口” 套住回波， 按 按方向键将 闸口” “ 套住回波， 试点 01”中止闪耀，移动探头找出最高波回波，按 回波到 80%，按 确定回波 “测
点的序号向后顺延， 并闪耀， 表明进入下一个测验点的采样。 依照上面的过程确定下一个测验点 （30mm、 50mm......） 。最少做 3 个点。制造完最终一点后，连按 2 次 0.0 mm” ，输入后，按 键，屏幕上呈现“请输入工件厚度： 请输入工件厚度： 请输入工件厚度
高于满刻度的 20％。若低于此高度，可将探头平行地向 R50 的弧面笔直方向移平，直至 R50 的弧面回波 高度在满刻度的 20%以上。 “主动校准结束！ 后 “请用钢尺测前沿：0.0” ” 请用钢尺测前沿： ，将探头前沿值改为实测数 主动校准结束！ 值后， 按 键。 此刻仪器提示 “是否重校” 按 ， 键 重 新 校 准 ，按 其 他 任 意 键 进 入 K 值 测 试 。
套在 CSK − IA 试块 50mm 和 100mm 的间隔坐标处。 将斜探头放置在 CSK − IA 试块的 R50 和 R100 的圆心处，首先在靠 R100 弧面一侧水平方向移动探头寻觅最高反射回波（可运用 峰） ，找到最高回波后按 键辅佐确定回波
键将波形调整到满刻度的 80％高度，此刻看 R50 弧面的回波是否在屏幕上
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